DB35/T 1146-2011
Determinación del contenido de elementos de impureza en materiales de silicio mediante espectrometría de masas de descarga luminosa (Versión en inglés)
- Estándar No.
- DB35/T 1146-2011
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2011
- Organización
- Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China
- Ultima versión
- DB35/T 1146-2011
- Alcance
- Esta norma especifica los términos y definiciones, principios, reactivos y materiales, instrumentación y equipos, requisitos de muestras, requisitos de muestras, pasos de análisis, cálculos de resultados y desviaciones permitidas involucradas en la determinación del contenido de elementos de impureza en materiales de silicio mediante espectrometría de masas de descarga luminiscente ( GDM). . Esta norma es aplicable a la determinación de elementos de impureza Li, Be, B, Na, M g, A 1, P, K, Th, U y otros elementos en materiales de silicio con una pureza no superior al 99,99999%.
DB35/T 1146-2011 Historia
- 2011 DB35/T 1146-2011 Determinación del contenido de elementos de impureza en materiales de silicio mediante espectrometría de masas de descarga luminosa
