DB34/T 3368.1-2019
Métodos para el análisis de sustancias peligrosas en placas de circuito impreso. Parte 1: Espectrometría de fluorescencia de rayos X de detección rápida para plomo, mercurio, cromo, cadmio y bromo. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- DB34/T 3368.1-2019
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2019
- Organización
- Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China
- Ultima versión
- DB34/T 3368.1-2019
- Alcance
- Esta parte especifica el principio del método, la instrumentación, los reactivos, la preparación de muestras, los pasos de análisis, la detección y los informes para la detección rápida de sustancias peligrosas como plomo, mercurio, cromo, cadmio y bromo en placas de circuito impreso mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X. Esta sección es aplicable a la detección rápida de sustancias nocivas como plomo, mercurio, cromo, cadmio y bromo en placas de circuito impreso. El cromo y el bromo medidos se refieren al cromo total y al bromo total en la muestra.
DB34/T 3368.1-2019 Historia
- 2019 DB34/T 3368.1-2019 Métodos para el análisis de sustancias peligrosas en placas de circuito impreso. Parte 1: Espectrometría de fluorescencia de rayos X de detección rápida para plomo, mercurio, cromo, cadmio y bromo.
