YS/T 679-2018
Método de fotovoltaje de superficie para medir la longitud de difusión de portadores minoritarios en semiconductores extrínsecos (Versión en inglés)

Estándar No.

YS/T 679-2018

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2018

Organización

工业和信息化部

Ultima versión

YS/T 679-2018

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YS/T 679-2008

YS/T 679-2018 Historia

• 2018 YS/T 679-2018 Método de fotovoltaje de superficie para medir la longitud de difusión de portadores minoritarios en semiconductores extrínsecos
• 2008 YS/T 679-2008 Métodos de prueba para la longitud de difusión de portadores minoritarios en semiconductores extrínsecos mediante la medición del fotovoltaje superficial en estado estacionario