UNE-EN 60749-5:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario

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2003

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AENOR

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• 1970 UNE-EN 60749-5:2017
• 2003 UNE-EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario