NF EN 60749-32/A1:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 32: inflamabilidad de los dispositivos encapsulados en plástico (caso de una causa externa de ignición).

Estándar No.

NF EN 60749-32/A1:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 60749-32/A1:2011

NF EN 60749-32/A1:2011 Historia

• 2011 NF EN 60749-32/A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 32: inflamabilidad de los dispositivos encapsulados en plástico (caso de una causa externa de ignición).