DB22/T 2836-2017 (Versión en inglés)

Alcance: Esta norma especifica el método para determinar la tasa de pulverización iónica del perfilado profundo mediante el uso de espectroscopia de electrones Auger (AES) y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS). El área de pulverización iónica de la muestra oscila entre 0,4 mm2 y 3,0 mm2. Esta norma sólo es aplicable a materiales no fase o materiales monocapa lateralmente uniformes. La velocidad de pulverización iónica está determinada por la profundidad y el tiempo de pulverización. La profundidad de pulverización se mide mediante un perfilador de sonda mecánico. Esta norma proporciona un método para convertir el tiempo de pulverización iónica en profundidad de pulverización en perfiles de profundidad, suponiendo una velocidad de pulverización constante. Este método no fue diseñado para microscopía de sonda de barrido y, por lo tanto, no se puede evaluar con microscopía de sonda de barrido. Este método no es adecuado para el caso en el que el área pulverizada es inferior a 0,4 mm2, ni tampoco es adecuado para el caso en el que la rugosidad superficial inducida por la pulverización catódica es significativa en comparación con la profundidad pulverizada del área medida.

DB22/T 2836-2017 Historia

2017 DB22/T 2836-2017 Determinación de siete tipos de sustancias olorosas en agua potable y agua de origen mediante cromatografía de gases-espectrometría de masas.