KS C IEC 60749-7-2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.

Estándar No.

KS C IEC 60749-7-2020

Fecha de publicación

2020

Organización

KR-KS

Ultima versión

KS C IEC 60749-7-2020

KS C IEC 60749-7-2020 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-7:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
• 2004 KS C IEC 60749-7:2004 Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.