Esta especificación técnica especifica la terminología genérica para los parámetros de calidad globales y locales de las rejillas artificiales@ interpretados en términos de desviaciones de las posiciones nominales de las características de la rejilla@ y proporciona orientación sobre la categorización de los métodos de medición y evaluación para su determinación. Esta especificación tiene como objetivo facilitar la comunicación entre los fabricantes@usuarios y los laboratorios de calibración que se ocupan de la caracterización de los parámetros de calidad dimensional de las rejillas artificiales utilizadas en nanotecnología. Esta especificación apoya el aseguramiento de la calidad en la producción y uso de rejillas artificiales en diferentes áreas de aplicación de la nanotecnología. Si bien las definiciones y los métodos descritos son universales para una gran variedad de rejillas diferentes, la atención se centra en las rejillas unidimensionales (1D) y bidimensionales (2D).
TS 62622-2012 Historia
2012TS 62622-2012 Nanotecnologías – Descripción@ parámetros de medición y calidad dimensional de rejillas artificiales (Edición 1.0)