Esta práctica recomendada por SAE define un método para evaluar el componente eléctrico o magnético del campo cercano del campo electromagnético en la superficie de un circuito integrado (IC). Esta técnica es capaz de proporcionar un patrón detallado de las fuentes de RF internas del CI. La resolución del patrón está determinada por las características de las sondas utilizadas y la precisión del posicionador mecánico de la sonda. El método se puede utilizar en el rango de frecuencia de 10 MHz a 3 GHz con la tecnología de sonda existente. La sonda se escanea mecánicamente según un patrón programado en un plano paralelo o perpendicular a la superficie del CI y los datos se procesan por computadora para proporcionar una representación con colores mejorados de la intensidad del campo en la frecuencia de escaneo. Este procedimiento es aplicable a mediciones desde un IC montado en cualquier placa de circuito a la que pueda acceder la sonda de escaneo. Para las comparaciones, se utilizará el tablero de prueba estandarizado.
SAE J1752/2-1995 Historia
2016SAE J1752/2-2016 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz
2011SAE J1752/2-2011 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz
2003SAE J1752/2-2003 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de escaneo de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz
1995SAE J1752/2-1995 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de escaneo de superficie (método de sonda en bucle) de 10 Mhz a 3 Ghz