BS EN IEC 60749-41:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles

Estándar No.

BS EN IEC 60749-41:2020

Fecha de publicación

2020

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN IEC 60749-41:2020

BS EN IEC 60749-41:2020 Historia

• 2020 BS EN IEC 60749-41:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles