SJ/T 11586-2016
Método de prueba para la irradiación de dosis total de rayos X de baja energía de 10 KeV de dispositivos semiconductores (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 11586-2016

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2016

Organización

工业和信息化部

Ultima versión

SJ/T 11586-2016

SJ/T 11586-2016 Historia

• 2016 SJ/T 11586-2016 Método de prueba para la irradiación de dosis total de rayos X de baja energía de 10 KeV de dispositivos semiconductores