DB61/T 1448-2021
Procedimientos de prueba de vida intermitente para dispositivos discretos semiconductores de alta potencia (Versión en inglés)
- Estándar No.
- DB61/T 1448-2021
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2021
- Organización
- Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China
- Ultima versión
- DB61/T 1448-2021
- Alcance
- Este documento especifica los términos y definiciones, sistemas de prueba, procedimientos de prueba, criterios de falla y requisitos de informes de prueba para pruebas de vida intermitente de dispositivos discretos semiconductores de alta potencia (en lo sucesivo, dispositivos). Este documento es adecuado para pruebas de vida intermitente de dispositivos semiconductores discretos, como transistores bipolares de alta potencia, transistores de efecto de campo, transistores de efecto de campo de puerta aislada y diodos.
DB61/T 1448-2021 Historia
- 2021 DB61/T 1448-2021 Procedimientos de prueba de vida intermitente para dispositivos discretos semiconductores de alta potencia
