NF EN IEC 60749-28:2022
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de susceptibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo

Estándar No.

NF EN IEC 60749-28:2022

Fecha de publicación

2022

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN IEC 60749-28:2022

NF EN IEC 60749-28:2022 Historia

• 2022 NF EN IEC 60749-28:2022 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de susceptibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo