IEC 60747-18-1:2019
Dispositivos semiconductores. Parte 18-1: Biosensores semiconductores. Método de prueba y análisis de datos para la calibración de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes.
- Estándar No.
- IEC 60747-18-1:2019
- Fecha de publicación
- 2019
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 60747-18-1:2019
- Alcance
- Esta parte de IEC 60747 especifica los métodos de prueba y el análisis de datos para la calibración de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes. Este documento incluye las condiciones de prueba de cada proceso@ configuración de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes@ análisis estadístico de datos de prueba@ calibración para planarización y linealidad@ e informes de prueba.
IEC 60747-18-1:2019 Historia
- 2019 IEC 60747-18-1:2019 Dispositivos semiconductores. Parte 18-1: Biosensores semiconductores. Método de prueba y análisis de datos para la calibración de sensores de matriz fotónica CMOS sin lentes.
