CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization
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EN IEC 60749-17:2019
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La prueba de irradiación de neutrones se realiza para determinar la susceptibilidad de los dispositivos semiconductores a la degradación por pérdida de energía no ionizante (NIEL). La prueba aquí descrita es aplicable a circuitos integrados y dispositivos semiconductores discretos y está destinada a aplicaciones militares y aeroespaciales. Es una prueba destructiva. Los objetivos de la prueba son los siguientes: a) detectar y medir la degradación de los parámetros críticos del dispositivo semiconductor en función de la fluencia de neutrones y b) determinar si los parámetros específicos del dispositivo semiconductor están dentro de los límites especificados después de la exposición a un nivel específico de fluencia de neutrones (ver Cláusula 6).
EN IEC 60749-17:2019 Historia
2019EN IEC 60749-17:2019 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones.