UNE-EN 12543-1:2000 ENSAYO NO DESTRUCTIVO - CARACTERÍSTICAS DE LOS PUNTOS FOCALES EN SISTEMAS INDUSTRIALES DE RAYOS X PARA SU USO EN ENSAYO NO DESTRUCTIVO - PARTE 1: MÉTODO DE ESCANEO.
2000UNE-EN 12543-1:2000 ENSAYO NO DESTRUCTIVO - CARACTERÍSTICAS DE LOS PUNTOS FOCALES EN SISTEMAS INDUSTRIALES DE RAYOS X PARA SU USO EN ENSAYO NO DESTRUCTIVO - PARTE 1: MÉTODO DE ESCANEO.