ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales. normas y especificaciones

Alcance: Esta norma internacional especifica un método para determinar la tasa de recuento máxima para un límite aceptable de divergencia de la linealidad de la escala de intensidad en espectrómetros de masas de iones secundarios con tiempo de vuelo (TOF) de recuento de iones individuales utilizando una prueba basada en relaciones isotópicas en espectros de poli( tetrafluoroetileno) (PTFE). También incluye un método para corregir la no linealidad de intensidad que surge de la pérdida de intensidad de una placa de microcanal (MCP) o centelleador y fotomultiplicador seguido de un sistema de detección de convertidor de tiempo a digital (TDC) causado por iones secundarios que llegan durante su tiempo muerto. La corrección puede aumentar el rango de intensidad para una linealidad del 95 % en un factor de hasta más de 50, de modo que se pueda emplear una tasa de conteo máxima más alta para aquellos espectrómetros para los cuales se ha demostrado que las fórmulas de corrección relevantes son válidas. Esta norma internacional también se puede utilizar para confirmar la validez de instrumentos en los que la corrección del tiempo muerto ya se ha realizado pero en los que pueden o no ser posibles aumentos adicionales.

ISO 17862:2013 Historia

2022 ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
2013 ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.