BS EN ISO 9220:2022
Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- Estándar No.
- BS EN ISO 9220:2022
- Fecha de publicación
- 2022
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS EN ISO 9220:2022
- Alcance
- Alcance Este documento especifica un método destructivo para la medición del espesor local de recubrimientos metálicos y otros recubrimientos inorgánicos mediante el examen de secciones transversales con un microscopio electrónico de barrido (SEM). El método es aplicable para espesores de hasta varios milímetros, pero para tales Para recubrimientos gruesos suele ser más práctico utilizar un microscopio óptico (ver ISO 1463). El límite de espesor inferior depende de la incertidumbre de medición lograda (ver Cláusula 10). NOTA El método también se puede utilizar para capas orgánicas cuando no están dañadas por la preparación de la sección transversal ni por el haz de electrones durante la toma de imágenes.
BS EN ISO 9220:2022 Historia
- 2022 BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- 1989 BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
