Esta norma especifica los requisitos de integridad y los métodos de inspección y evaluación para equipos de prueba de alta y baja temperatura. Esta norma se aplica al equipo de prueba de alta y baja temperatura con pantalla digital DCP-55. También se pueden implementar otros tipos similares de dispositivos de prueba de alta y baja temperatura con referencia a las disposiciones pertinentes de esta norma.
SJ/T 31129-1994 Historia
1970SJ/T 31129-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para equipos de prueba de alta/baja temperatura.