SJ/T 10745-1996
Métodos de prueba mecánicos y climáticos para circuitos integrados de semiconductores. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- SJ/T 10745-1996
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Organización
- Professional Standard - Electron
- Estado
- 2010-02
- Ultima versión
- SJ/T 10745-1996
SJ/T 10745-1996 Historia
- 1970 SJ/T 10745-1996 Métodos de prueba mecánicos y climáticos para circuitos integrados de semiconductores.
