SJ 20636-1997 Método de prueba para el contenido de oxígeno y carbono de una oblea de silicio delgada de gran diámetro en una microzona para uso en circuitos integrados (Versión en inglés)
Esta norma especifica el método para medir la distribución radial del contenido de oxígeno intersticial en microáreas y el contenido de carbono sustitucional en obleas de silicio con un espesor de 0,3 a 2,0 mm. Esta norma es aplicable a la determinación de la distribución radial del contenido de oxígeno intersticial y microáreas de contenido de carbono sustituido en obleas de silicio con resistividad a temperatura ambiente superior a 0,1Ω.cm. Rango de medición. Para el contenido de oxígeno intersticial es 3,0 × 10 ^ (16) at. cm^(-3) a la máxima solubilidad sólida del oxígeno intersticial en silicio; ya que el contenido de carbono sustituido es 5,0×10^(15)at. cm^(-3) hasta la máxima solubilidad sólida del carbono sustituido en silicio.
SJ 20636-1997 Historia
1997SJ 20636-1997 Método de prueba para el contenido de oxígeno y carbono de una oblea de silicio delgada de gran diámetro en una microzona para uso en circuitos integrados