SJ 2215.9-1982
Método de medición de la corriente de corte inversa de transistores fotoacopladores semiconductores. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ 2215.9-1982

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1982

Organización

Professional Standard - Electron

Estado

 2015-10

Remplazado por

SJ/T 2215-2015

Ultima versión

SJ/T 2215-2015

SJ 2215.9-1982 Historia

• 2015 SJ/T 2215-2015 Métodos de medición para fotoacopladores de semiconductores.
• 1982 SJ 2215.9-1982 Método de medición de la corriente de corte inversa de transistores fotoacopladores semiconductores.

SJ 2215.9-1982 Método de medición de la corriente de corte inversa de transistores fotoacopladores semiconductores. ha sido cambiado a SJ/T 2215-2015 Métodos de medición para fotoacopladores de semiconductores..