1.1 Esta norma especifica el uso del método de monitor de cristal de cuarzo para determinar la tasa de evaporación de materiales electrónicos. 1.2 Esta norma se aplica a todos los materiales electrónicos sólidos.
SJ 3205-1989 Historia
1989SJ 3205-1989 Métodos de prueba para la tasa de evaporación de materiales electrónicos.