SJ 966-1975
Métodos de medición de la tensión de ruptura inversa de diodos de conmutación de silicio. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- SJ 966-1975
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1976
- Organización
- Professional Standard - Electron
- Estado
- 2010-02
- Ultima versión
- SJ 966-1975
SJ 966-1975 Historia
- 1976 SJ 966-1975 Métodos de medición de la tensión de ruptura inversa de diodos de conmutación de silicio.
