SJ/T 1147-1993
Método de prueba para la tangente del ángulo de pérdida dieléctrica y la constante dieléctrica de una película orgánica para uso en condensadores. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 1147-1993

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1993

Organización

Professional Standard - Electron

Estado

Ultima versión

SJ/T 1147-1993

Reemplazar

SJ 1147-1977

Alcance

Esta norma especifica los métodos de prueba para la tangente de pérdida dieléctrica y la constante dieléctrica de películas orgánicas para condensadores.

SJ/T 1147-1993 Historia

• 1993 SJ/T 1147-1993 Método de prueba para la tangente del ángulo de pérdida dieléctrica y la constante dieléctrica de una película orgánica para uso en condensadores.
• 0000 SJ 1147-1977