SJ 1551-1979
Método de medición de la resistividad de la capa epitaxial de silicio (método capacitancia-voltaje) (Provisional) (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ 1551-1979

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1980

Organización

Professional Standard - Electron

Estado

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Ultima versión

SJ 1551-1979

SJ 1551-1979 Historia

• 1980 SJ 1551-1979 Método de medición de la resistividad de la capa epitaxial de silicio (método capacitancia-voltaje) (Provisional)