SJ/T 11212-1999
Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo Parte 6 Medición de la dependencia del nivel de excitación (DLD) (Versión en inglés)
- Estándar No.
- SJ/T 11212-1999
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Organización
- Professional Standard - Electron
- Ultima versión
- SJ/T 11212-1999
- Alcance
- Esta norma se aplica a la medición de la dependencia del nivel de excitación (DLD) de componentes de cristal de cuarzo. Esta norma especifica dos métodos de prueba. El método A, basado en la red tipo π de SJ/Z 9154.1-1987, es aplicable a todo el rango de frecuencia cubierto por esta norma. El método B es el método del oscilador, que es adecuado para medir grandes cantidades de componentes de cristal de cuarzo de frecuencia fundamental en condiciones fijas.
SJ/T 11212-1999 Historia
- 1970 SJ/T 11212-1999 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo Parte 6 Medición de la dependencia del nivel de excitación (DLD)
