SJ/T 11210-1999
Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 4: Método para medir la frecuencia de resonancia de carga fL, resistencia de resonancia de carga RL y el cálculo de otros valores derivados de unidades de cristal de cuarzo, hasta 30 MHz. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- SJ/T 11210-1999
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1999
- Organización
- Professional Standard - Electron
- Ultima versión
- SJ/T 11210-1999
- Alcance
- Esta norma especifica un método de medición simple para la frecuencia resonante de carga f|(L) y la resistencia resonante de carga R|(L) de componentes de cristal de cuarzo con frecuencias de hasta 30MHz. A partir de estas dos mediciones, se puede calcular el desplazamiento de frecuencia resonante de carga ΔF|(L), el rango de extracción de frecuencia Δf|(L|(1)L|(2)) y la sensibilidad de extracción definida por IEC122-1 Modificación 1 S.
SJ/T 11210-1999 Historia
- 1999 SJ/T 11210-1999 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 4: Método para medir la frecuencia de resonancia de carga fL, resistencia de resonancia de carga RL y el cálculo de otros valores derivados de unidades de cristal de cuarzo, hasta 30 MHz.
