SJ 20714-1998
Método de prueba para determinar el daño subsuperficial de una oblea pulida con arseniuro de galio mediante difracción de doble cristal de rayos X (Versión en inglés)

Estándar No.
SJ 20714-1998
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
1998
Organización
Professional Standard - Electron
Ultima versión
SJ 20714-1998
Alcance
Esta norma especifica el método de prueba de difracción de cristales gemelos de rayos X para la capa subdañada de láminas pulidas de arseniuro de galio. Esta norma es aplicable a la medición cualitativa de la capa subdañada de obleas de arseniuro de galio que han sido pulidas química y mecánicamente por una cara y por ambas caras.

SJ 20714-1998 Historia

  • 1998 SJ 20714-1998 Método de prueba para determinar el daño subsuperficial de una oblea pulida con arseniuro de galio mediante difracción de doble cristal de rayos X



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