SJ 3244.4-1989 Métodos de medición para la distribución del perfil de la concentración de portadores de materiales de arseniuro de galio y fosfuro de indio - Método de capacitancia de voltaje electroquímico (Versión en inglés)
1.1 Esta norma especifica los principios, los requisitos de instrumentos y electrolitos, los procedimientos de medición y el cálculo de los resultados de medición para la medición del método de capacitancia de voltaje electroquímico. 1.2 Esta norma se aplica al arseniuro de galio y al fosfuro de indio de tipo n y tipo P con una concentración de portador de 10 ^ (14) ~ 10 (19) cm ^ (-3). También se aplica al arseniuro de aluminio, galio y al arseniuro de galio indio. fosfuro Medición de la distribución del perfil de concentración del material portador.
SJ 3244.4-1989 Historia
1989SJ 3244.4-1989 Métodos de medición para la distribución del perfil de la concentración de portadores de materiales de arseniuro de galio y fosfuro de indio - Método de capacitancia de voltaje electroquímico