SJ 3254-1989
Métodos de cribado de muestras de transistores de media-baja potencia para medidas. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ 3254-1989

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1989

Organización

Professional Standard - Electron

Estado

Retirar 2010-02

Ultima versión

SJ 3254-1989

Alcance

Esta norma se aplica a transistores primarios de transistores de potencia pequeña y mediana con una disipación de potencia de colector máxima permitida (Pcm) de menos de 1w.

SJ 3254-1989 Historia

• 1989 SJ 3254-1989 Métodos de cribado de muestras de transistores de media-baja potencia para medidas.