IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005
IEC 62526 Ed. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Estándar para extensiones del lenguaje de interfaz de prueba estándar (STIL) para entornos de diseño de semiconductores

Estándar No.

IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005

Fecha de publicación

2007

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005

Alcance

El lenguaje de interfaz de prueba estándar (STIL) proporciona una interfaz entre las herramientas de generación de pruebas digitales y los equipos de prueba. Se definen extensiones al lenguaje de interfaz de prueba (contenido en este estándar) que (1) facilitan el uso del lenguaje en el entorno de diseño y (2 ) facilitan el uso del lenguaje para diseños grandes que abarcan subdiseños con patrones reutilizables.

IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005 Historia

• 2007 IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005 IEC 62526 Ed. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Estándar para extensiones del lenguaje de interfaz de prueba estándar (STIL) para entornos de diseño de semiconductores