SJ 3244.2-1989
Métodos de medición para la discrepancia en la red cristalina entre el sustrato de arseniuro de galio y fosfuro de indio y la capa extendida de heterounión (Versión en inglés)
- Estándar No.
- SJ 3244.2-1989
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1989
- Organización
- Professional Standard - Electron
- Estado
- 2010-02
- Ultima versión
- SJ 3244.2-1989
- Alcance
- Esta norma especifica los principios de medición, procedimientos y métodos de cálculo para el desajuste de la red entre la capa epitaxial de heterounión y el sustrato. Esta norma es aplicable al siguiente rango: la desviación de la orientación del cristal de la superficie de la capa epitaxial es inferior a 1,5^(·). El espesor total de la capa epitaxial multicapa no es superior a 10 µm.
SJ 3244.2-1989 Historia
- 1989 SJ 3244.2-1989 Métodos de medición para la discrepancia en la red cristalina entre el sustrato de arseniuro de galio y fosfuro de indio y la capa extendida de heterounión
