NF EN IEC 60749-41:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: métodos de prueba estándar para la confiabilidad de dispositivos de memoria no volátiles.

Estándar No.

NF EN IEC 60749-41:2020

Fecha de publicación

2020

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN IEC 60749-41:2020

NF EN IEC 60749-41:2020 Historia

• 2020 NF EN IEC 60749-41:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: métodos de prueba estándar para la confiabilidad de dispositivos de memoria no volátiles.