QJ 2689-1994
Método de inspección fotográfica por rayos X para sustancias redundantes en componentes electrónicos. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- QJ 2689-1994
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1994
- Organización
- Professional Standard - Aerospace
- Ultima versión
- QJ 2689-1994
QJ 2689-1994 Historia
- 1994 QJ 2689-1994 Método de inspección fotográfica por rayos X para sustancias redundantes en componentes electrónicos.
