ASTM D6502-99 Método de prueba estándar para la medición en línea de partículas de bajo nivel y metales disueltos en agua mediante fluorescencia de rayos X (XRF)
1.1 Este método de prueba cubre la operación, calibración e interpretación de datos para un sistema de monitoreo de productos de corrosión (metales) en línea. El sistema de monitoreo se basa en el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) de metales contenidos en filtros de membrana (para formas particuladas) o membranas de resina (para formas disueltas). Dado que el detector XRF es sensible a una variedad de energías de emisión, este método de prueba es aplicable al monitoreo simultáneo de los niveles de concentración de varios metales, incluidos titanio, vanadio, cromo, manganeso, hierro, cobalto, níquel, cobre, zinc, mercurio y plomo. , y otros en una muestra fluida. Se puede lograr un límite de detección inferior a 1 ppb para la mayoría de los metales. 1.2 Este método de prueba incluye una descripción del equipo que comprende el sistema de monitoreo de metales en línea, así como procedimientos operativos y especificaciones del sistema. Esta norma no pretende abordar todos de los problemas de seguridad, si los hubiera, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM D6502-99 Historia
2022ASTM D6502-10(2022) Método de prueba estándar para la medición de muestras integradas en línea de sólidos suspendidos de bajo nivel y sólidos iónicos en agua de proceso mediante fluorescencia de rayos X (XRF)
2010ASTM D6502-10(2015) Método de prueba estándar para la medición de muestras integradas en línea de sólidos suspendidos de bajo nivel y sólidos iónicos en agua de proceso mediante fluorescencia de rayos X (XRF)
2010ASTM D6502-10 Método de prueba estándar para la medición de muestras integradas en línea de sólidos suspendidos de bajo nivel y sólidos iónicos en agua de proceso mediante fluorescencia de rayos X (XRF)
2008ASTM D6502-08 Método de prueba estándar para la medición continua de muestras compuestas en línea de materia filtrable de bajo nivel (sólidos en suspensión) y materia no filtrable (sólidos iónicos) en agua de proceso mediante fluoruro de rayos X
1999ASTM D6502-99(2003) Método de prueba estándar para la medición en línea de partículas de bajo nivel y metales disueltos en agua mediante fluorescencia de rayos X (XRF)
1999ASTM D6502-99 Método de prueba estándar para la medición en línea de partículas de bajo nivel y metales disueltos en agua mediante fluorescencia de rayos X (XRF)