NF EN IEC 60749-37:2022
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un acelerómetro.

Estándar No.

NF EN IEC 60749-37:2022

Fecha de publicación

2022

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN IEC 60749-37:2022

NF EN IEC 60749-37:2022 Historia

• 2022 NF EN IEC 60749-37:2022 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un acelerómetro.