ISO 13142:2021
Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Método de anillo de cavidad para mediciones de alta reflectancia y alta transmitancia.

Estándar No.
ISO 13142:2021
Fecha de publicación
2021
Organización
International Organization for Standardization (ISO)
Ultima versión
ISO 13142:2021
Alcance
Este documento especifica procedimientos de medición para la determinación precisa de la alta reflectancia o alta transmitancia (>99 %) de los componentes del láser óptico. Los métodos proporcionados en este documento están destinados a ser utilizados para la prueba y caracterización de alta reflectancia de espejos cóncavos y planos o alta transmitancia de ventanas planas utilizadas en sistemas láser e instrumentos basados en láser. La reflectancia de espejos convexos o la transmitancia de lentes positivas o negativas también se pueden probar teniendo en cuenta el radio de curvatura de la superficie del espejo o la distancia focal de la lente. Este documento es complementario a la norma ISO 15368 que especifica los procedimientos de medición para la determinación de reflectancia y transmitancia de componentes ópticos con espectrofotometría. ISO 15368 es aplicable a mediciones de reflectancia y transmitancia en el rango de 0 % a 100 % con una precisión típica de ±0,3 %, y por lo tanto no es aplicable a mediciones precisas de reflectancia y transmitancia superiores al 99,9 %. .

ISO 13142:2021 Documento de referencia

  • ISO 11145 Óptica y fotónica — Láseres y equipos relacionados con el láser — Vocabulario y símbolos
  • ISO 14644-1 Salas blancas y ambientes controlados asociados - Parte 1: Clasificación de la limpieza del aire por concentración de partículas
  • ISO 80000-7 Cantidades y unidades. Parte 7: Luz y radiación. Enmienda 1.

ISO 13142:2021 Historia

  • 2021 ISO 13142:2021 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Método de anillo de cavidad para mediciones de alta reflectancia y alta transmitancia.
  • 2015 ISO 13142:2015 Sistemas electroópticos: técnica de cavidad anular para medición de alta reflectancia



© 2023 Reservados todos los derechos.