SJ/T 11845.3-2022
Método de evaluación de confiabilidad de componentes electrónicos basado en parámetros de ruido de baja frecuencia Parte 3: Diodos (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 11845.3-2022

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2022

Organización

Professional Standard - Electron

Ultima versión

SJ/T 11845.3-2022

SJ/T 11845.3-2022 Historia

• 2022 SJ/T 11845.3-2022 Método de evaluación de confiabilidad de componentes electrónicos basado en parámetros de ruido de baja frecuencia Parte 3: Diodos