JJF 1092-2002
Especificación de calibración para microscopios de sección óptica (Versión en inglés)

Estándar No.

JJF 1092-2002

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2002

Organización

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China

Ultima versión

JJF 1092-2002

Alcance

Esta especificación se aplica a la calibración de microscopios de sección óptica.

JJF 1092-2002 Historia

• 2002 JJF 1092-2002 Especificación de calibración para microscopios de sección óptica