IEC 60749-44:2016
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores.
- Estándar No.
- IEC 60749-44:2016
- Fecha de publicación
- 2016
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 60749-44:2016
IEC 60749-44:2016 Historia
- 2016 IEC 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores.
