HB 6742-1993 (Versión en inglés)

Alcance: Esta norma especifica los requisitos generales para los principios del método, instrumentos y equipos, medición de ángulos, análisis de patrones de difracción y calibración de orientación mediante fotografía Laue de retrorreflexión de rayos X para detectar la orientación de cristales metálicos. Esta norma es aplicable a la detección de la orientación del cristal de muestras y láminas de cristal monocristalino y columnar solidificadas direccionalmente de aleación de alta temperatura a base de níquel fundido. Por ejemplo, es adecuado para monocristales de la serie DD y cristales columnares de la serie DZ, y también es adecuado para la determinación de la orientación de granos con un diámetro superior a 1 mm. También se puede utilizar como referencia la determinación de la orientación de otros cristales metálicos.

HB 6742-1993 Historia

1993 HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X