JB/T 4220-1999
Método de determinación del parámetro de red de grafito artificial. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- JB/T 4220-1999
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1999
- Organización
- Professional Standard - Machinery
- Estado
- 2012-04
- Remplazado por
- JB/T 4220-2011
- Ultima versión
- JB/T 4220-2011
- Alcance
- Esta norma especifica un método para medir los parámetros reticulares del grafito artificial mediante difracción de polvo de rayos X (método difractómetro) y determinar el grado de grafitización del grafito artificial a través de los parámetros reticulares. Este método es adecuado para grafito artificial con un alto grado de grafitización que ha sido sometido a un tratamiento térmico a alta temperatura (como el grafito para diamantes artificiales, etc.).
JB/T 4220-1999 Historia
- 2011 JB/T 4220-2011 Método de determinación del parámetro de red de grafito artificial.
- 1999 JB/T 4220-1999 Método de determinación del parámetro de red de grafito artificial.
