JB/T 8268-1999
Método de prueba estándar para defectos superficiales de fotoconductores en procesos electrostáticos (Versión en inglés)

Estándar No.

JB/T 8268-1999

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1999

Organización

Professional Standard - Machinery

Estado

 2015-10

Remplazado por

JB/T 8268-2015

Ultima versión

JB/T 8268-2015

Reemplazar

JB/T 8268-1995

JB/T 8268-1999 Historia

• 2015 JB/T 8268-2015 Método de prueba de defectos superficiales para fotoconductores en el proceso de copia electrostática.
• 1999 JB/T 8268-1999 Método de prueba estándar para defectos superficiales de fotoconductores en procesos electrostáticos
• 0000 JB/T 8268-1995