IEEE Std 1620-2004
Norma para métodos de prueba para la caracterización de materiales y transistores orgánicos

Estándar No.

IEEE Std 1620-2004

Fecha de publicación

2004

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Estado

 2008-12

Remplazado por

IEEE Std 1620-2008

Ultima versión

IEEE Std 1620-2008

Alcance

Esta norma describe un método para caracterizar dispositivos electrónicos orgánicos, incluidas técnicas de medición, métodos para informar datos y las condiciones de prueba durante la caracterización.

IEEE Std 1620-2004 Historia

• 2008 IEEE Std 1620-2008 Estándar IEEE para métodos de prueba para la caracterización de materiales y transistores orgánicos
• 2004 IEEE Std 1620-2004 Norma para métodos de prueba para la caracterización de materiales y transistores orgánicos