T/CSTM 00003-2019
Mediciones de espesor de materiales bidimensionales Microscopía de fuerza atómica (AFM) (Versión en inglés)
- Estándar No.
- T/CSTM 00003-2019
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2019
- Organización
- Group Standards of the People's Republic of China
- Ultima versión
- T/CSTM 00003-2019
- Alcance
- Esta norma especifica los principios, instrumentos y equipos, preprocesamiento de muestras, métodos de prueba, métodos de cálculo del espesor, evaluación de la incertidumbre de los resultados de las mediciones e informes de pruebas del método del microscopio de fuerza atómica para medir el espesor de materiales bidimensionales. Esta norma es aplicable a la medición de espesores de materiales bidimensionales que pueden formar escalones con el sustrato.
T/CSTM 00003-2019 Historia
- 2019 T/CSTM 00003-2019 Mediciones de espesor de materiales bidimensionales Microscopía de fuerza atómica (AFM)
