CNS 5069-1988
Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para dispositivos semiconductores discretos (prueba de choque térmico) (Versión en inglés)
- Estándar No.
- CNS 5069-1988
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1988
- Organización
- Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
- Ultima versión
- CNS 5069-1988
- Alcance
- Esta norma especifica un método de prueba con el fin de evaluar la resistencia de un solo dispositivo semiconductor a cambios extremos de temperatura cuando se expone a él.
CNS 5069-1988 Historia
- 1988 CNS 5069-1988 Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para dispositivos semiconductores discretos (prueba de choque térmico)
