CNS 5067-1988
Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para dispositivos semiconductores discretos (prueba de soldadura blanda para resistencia al calor) (Versión en inglés)

Estándar No.

CNS 5067-1988

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1988

Organización

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

Ultima versión

CNS 5067-1988

Alcance

Esta norma especifica un método de prueba para evaluar la resistencia al calor de un solo dispositivo semiconductor durante las operaciones de conexión de soldadura.

CNS 5067-1988 Historia

• 1988 CNS 5067-1988 Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para dispositivos semiconductores discretos (prueba de soldadura blanda para resistencia al calor)