CNS 6117-1988
Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para dispositivos semiconductores discretos (prueba de calor húmedo) (Versión en inglés)

Estándar No.

CNS 6117-1988

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1988

Organización

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

Ultima versión

CNS 6117-1988

Alcance

Esta norma especifica métodos de prueba para el uso y almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores individuales en condiciones de alta humedad relativa.

CNS 6117-1988 Historia

• 1988 CNS 6117-1988 Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para dispositivos semiconductores discretos (prueba de calor húmedo)