CNS 6560-1980
Medición del tiempo de recuperación inversa para diodos semiconductores (Versión en inglés)

Estándar No.

CNS 6560-1980

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1980

Organización

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

Ultima versión

CNS 6560-1980

Alcance

Este estándar especifica el método de medición del tiempo de recuperación inverso de diodos de alta velocidad, que es aplicable a diodos de señal por debajo de 300 ns (para métodos de medición con tiempo de recuperación superior a 300 nesec, consulte CNS_).

CNS 6560-1980 Historia

• 1980 CNS 6560-1980 Medición del tiempo de recuperación inversa para diodos semiconductores